ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Influence of electron scattering from morphological granularity and surface roughness on thin film electrical resistivity (2007)
Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Vaz, A R; Wiederkehr, Rodrigo Sérgio; Teixeira, Fernanda de Sá; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Brown, I G
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Assunto: FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa et al. Influence of electron scattering from morphological granularity and surface roughness on thin film electrical resistivity. Surface Review and Letters, v. 14, n. 1, p. 87-91, 2007Tradução . . Disponível em: http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080117040740835290[000000@143.107.135.25]@page.pdf. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Cattani, M. S. D., Vaz, A. R., Wiederkehr, R. S., Teixeira, F. de S., Salvadori, M. C. B. da S., & Brown, I. G. (2007). Influence of electron scattering from morphological granularity and surface roughness on thin film electrical resistivity. Surface Review and Letters, 14( 1), 87-91. Recuperado de http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080117040740835290[000000@143.107.135.25]@page.pdf
NLM
Cattani MSD, Vaz AR, Wiederkehr RS, Teixeira F de S, Salvadori MCB da S, Brown IG. Influence of electron scattering from morphological granularity and surface roughness on thin film electrical resistivity [Internet]. Surface Review and Letters. 2007 ; 14( 1): 87-91.[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080117040740835290[000000@143.107.135.25]@page.pdf
Vancouver
Cattani MSD, Vaz AR, Wiederkehr RS, Teixeira F de S, Salvadori MCB da S, Brown IG. Influence of electron scattering from morphological granularity and surface roughness on thin film electrical resistivity [Internet]. Surface Review and Letters. 2007 ; 14( 1): 87-91.[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://db.worldscinet.com/worldscientific/Files/20080117040740835290[000000@143.107.135.25]@page.pdf
Artigo de periodico
Platinum and gold thin films deposited by filtered vacuum arc: morphological and crystallographic grain sizes (2006)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Melo, L L; Vaz, A R; Wiederkehr, R S; Teixeira, F S; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface & Coatings Technology. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, RESISTÊNCIA ELÉTRICA, ESTRUTURA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Platinum and gold thin films deposited by filtered vacuum arc: morphological and crystallographic grain sizes. Surface & Coatings Technology, v. 200, n. 9, p. 2965-2969, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2004.08.068. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Melo, L. L., Vaz, A. R., Wiederkehr, R. S., Teixeira, F. S., & Cattani, M. S. D. (2006). Platinum and gold thin films deposited by filtered vacuum arc: morphological and crystallographic grain sizes. Surface & Coatings Technology, 200( 9), 2965-2969. doi:10.1016/j.surfcoat.2004.08.068
NLM
Salvadori MCB da S, Melo LL, Vaz AR, Wiederkehr RS, Teixeira FS, Cattani MSD. Platinum and gold thin films deposited by filtered vacuum arc: morphological and crystallographic grain sizes [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2006 ; 200( 9): 2965-2969.[citado 2024 maio 09 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2004.08.068
Vancouver
Salvadori MCB da S, Melo LL, Vaz AR, Wiederkehr RS, Teixeira FS, Cattani MSD. Platinum and gold thin films deposited by filtered vacuum arc: morphological and crystallographic grain sizes [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2006 ; 200( 9): 2965-2969.[citado 2024 maio 09 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2004.08.068
Artigo de periodico
Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin films (2004)
Melo, L L; Vaz, A R; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. Unidade: IF
Assunto: FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MELO, L L et al. Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin films. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials, 2004Tradução . . Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd003.pdf. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Melo, L. L., Vaz, A. R., Salvadori, M. C. B. da S., & Cattani, M. S. D. (2004). Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin films. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd003.pdf
NLM
Melo LL, Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin films [Internet]. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. 2004 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd003.pdf
Vancouver
Melo LL, Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Grain sizes and surface roughness in platinum and gold thin films [Internet]. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. 2004 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd003.pdf
Artigo de periodico
Measurement of electrical resistivity of nanostructured platinum thin films and quantum mechanical estimates (2004)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Vaz, A R; Farias, R J C; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, MECÂNICA QUÂNTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Measurement of electrical resistivity of nanostructured platinum thin films and quantum mechanical estimates. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials, 2004Tradução . . Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd004.pdf. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Vaz, A. R., Farias, R. J. C., & Cattani, M. S. D. (2004). Measurement of electrical resistivity of nanostructured platinum thin films and quantum mechanical estimates. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd004.pdf
NLM
Salvadori MCB da S, Vaz AR, Farias RJC, Cattani MSD. Measurement of electrical resistivity of nanostructured platinum thin films and quantum mechanical estimates [Internet]. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. 2004 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd004.pdf
Vancouver
Salvadori MCB da S, Vaz AR, Farias RJC, Cattani MSD. Measurement of electrical resistivity of nanostructured platinum thin films and quantum mechanical estimates [Internet]. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. 2004 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd004.pdf
Artigo de periodico
Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films (2004)
Vaz, A R; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. Unidade: IF
Subjects: MATERIAIS, FILMES FINOS, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VAZ, A R e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira e CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa. Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials, 2004Tradução . . Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd001.pdf. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Vaz, A. R., Salvadori, M. C. B. da S., & Cattani, M. S. D. (2004). Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd001.pdf
NLM
Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films [Internet]. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. 2004 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd001.pdf
Vancouver
Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films [Internet]. Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials. 2004 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd001.pdf
Artigo de periodico
Measurement of the elastic modulus of nanostructured gold and platinum thin films (2003)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Brown, I G; Vaz, A R; Melo, L L; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Physical Review B. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Measurement of the elastic modulus of nanostructured gold and platinum thin films. Physical Review B, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/physrevb.67.153404. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Brown, I. G., Vaz, A. R., Melo, L. L., & Cattani, M. S. D. (2003). Measurement of the elastic modulus of nanostructured gold and platinum thin films. Physical Review B. doi:10.1103/physrevb.67.153404
NLM
Salvadori MCB da S, Brown IG, Vaz AR, Melo LL, Cattani MSD. Measurement of the elastic modulus of nanostructured gold and platinum thin films [Internet]. Physical Review B. 2003 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: https://doi.org/10.1103/physrevb.67.153404
Vancouver
Salvadori MCB da S, Brown IG, Vaz AR, Melo LL, Cattani MSD. Measurement of the elastic modulus of nanostructured gold and platinum thin films [Internet]. Physical Review B. 2003 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: https://doi.org/10.1103/physrevb.67.153404
Trabalho de evento
Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films (2003)
Vaz, A R; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Proceedings. Conference titles: Nanotechnology Conference and Trade Show. Unidade: IF
Subjects: NANOTECNOLOGIA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VAZ, A R e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira e CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa. Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films. 2003, Anais.. Cambridge: NSTI, 2003. Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Vaz, A. R., Salvadori, M. C. B. da S., & Cattani, M. S. D. (2003). Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films. In Proceedings. Cambridge: NSTI. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf
NLM
Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films [Internet]. Proceedings. 2003 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf
Vancouver
Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films [Internet]. Proceedings. 2003 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf
Artigo de periodico
Nanostructured gold thin films: young modulus measurement (2003)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Vaz, A R; Melo, L L; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Nanostructured gold thin films: young modulus measurement. Surface Review and Letters, 2003Tradução . . Disponível em: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf. Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Vaz, A. R., Melo, L. L., & Cattani, M. S. D. (2003). Nanostructured gold thin films: young modulus measurement. Surface Review and Letters. Recuperado de http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf
NLM
Salvadori MCB da S, Vaz AR, Melo LL, Cattani MSD. Nanostructured gold thin films: young modulus measurement [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf
Vancouver
Salvadori MCB da S, Vaz AR, Melo LL, Cattani MSD. Nanostructured gold thin films: young modulus measurement [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ;[citado 2024 maio 09 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf
Artigo de periodico
Critical exponent measurement of poor quality diamond films (2002)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Melo, L L; Martins, Deilton Reis; Vaz, A R; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, DIAMANTE (PROPRIEDADES MAGNÉTICAS), MATERIAIS, MUDANÇA DE FASE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters, v. 9, n. 3-4, p. 1409-1412, 2002Tradução . . Acesso em: 09 maio 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Melo, L. L., Martins, D. R., Vaz, A. R., & Cattani, M. S. D. (2002). Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters, 9( 3-4), 1409-1412.
NLM
Salvadori MCB da S, Melo LL, Martins DR, Vaz AR, Cattani MSD. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters. 2002 ; 9( 3-4): 1409-1412.[citado 2024 maio 09 ]
Vancouver
Salvadori MCB da S, Melo LL, Martins DR, Vaz AR, Cattani MSD. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters. 2002 ; 9( 3-4): 1409-1412.[citado 2024 maio 09 ]

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

Subjects